关于晶体缺陷检测的论文

本文着重对晶体缺陷及其在半导体材料工业方面的应用进行介绍。. 第一章、晶体缺陷的定义和分类 1．1晶体缺陷的定义 在理想的晶体结构中，所有的原子、离子

X射线衍射貌相法的观测不破坏样品，一次能拍摄全部貌相的图像，同时能够检测视场范围内晶体表面及体内的全部缺陷甲。它的缺点是分辨率较差(只能在微米水平)，成像时间较长等；而且

论文首先介绍了表面缺陷检测中不同场景下的成像方案,主要根据表面颜色或表面反射性质来制定;接着介绍了工业界中存在的缺陷检测挑战(关键问题),例如:缺陷成像和

目录0.简介1.介绍2.相关工作2.1参照方法2.2非参照方法2.3混合方式3.faster R-CNN的概述4.TDD-net4.1合理的anchors设计和数据增强4.2多尺度的特征融合4.3在线硬

浅谈晶体缺陷及其应用 1103011036 周康 粉体一班 摘要： 晶体缺陷对晶体的力学性能既有有利的方面，也有不利的方面杂质 晶体缺陷对晶体生长、晶体的力学性

本文是为大家整理的缺陷检测主题相关的10篇毕业论文文献，包括5篇期刊论文和5篇学位论文，为缺陷检测选题相关人员撰写毕业论文提供参考。 1.[期刊论文]渗透

眼判断外,大多围绕硬件设备展开;算法以传统图像处理为主,主要针对不同类型的缺陷进行特征提取,较少有关于缺陷分类识别和定位检测的研究;且因为晶体缺陷形

针对晶体缺陷的概念、理论研究过程及进展、晶体缺陷与 晶体性能的关系、关于晶体缺陷一些重要概念的理解,进行了文献查阅和资料整 理,并结合个人看法,形成论文一篇。 关键词:晶体缺陷、概念描述、

（一）晶体缺陷检测的重要性 （二）晶体缺陷的种类 点缺陷——空位、间隙杂质原子（主要）线缺陷——位错（主要）面缺陷——堆垛层错、挛晶界、晶界等体缺陷——孔洞、夹杂物等 半导体加工过程中

(福建师范大学福清分校)的研究人员杨瑞珍、杜博伦、何赟泽、黄守道、张宏,在《电工技术学报》上撰文(论文标题为“晶体硅光伏电池电磁感应激励红外热辐射缺陷检测与成像技术”)指出,