微电子可靠性期刊

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摘要Microelectronics Reliability《微电子学可靠性》英国 ISSN:0026-2714,1961年创刊,全年11期,Elsevier Science出版社,SCI、EI收录期刊, 浙江工业大学图书馆信

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微电子sci期刊

Microelectronics Reliability《微电子学可靠性》英国 ISSN:0026-2714,1961年创刊,全年11期,Elsevier Science出版社,SCI、EI收录期刊, 浙江工业大学图书馆信

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